Електронний каталог науково-технічної бібліотеки ІФНТУНГ

• Класифікатори
• 543.4 Методи спектрального аналізу. Методи оптичного аналізу

543.44 Методи вимірювання дифракції

Документи:

• Модифицированная динамическая модель высокоразрешающей двухкристальной рентгеновской дифрактометрии микродефектов в монокристаллах [Текст] / Т. П. Владимирова, Р. Ф. Середенко, В. Б. Молдодкин [et al.] // Металлофизика и новейшие технологии. – 2007. – Т. 29, № 6. – С. 711-726.