Електронний каталог науково-технічної бібліотеки ІФНТУНГ

• Класифікатори
• 537.5 Електронні та іонні явища

537.53 Емісія випромінювання або частинок при розрядах

Документи:

• Бродский, А. М. Теория электронной эмиссии из металлов [Текст] / А. М. Бродский, Ю. Я. Гуревич. – М. : Наука, 1973. – 256 с. : ил., табл. – 247-255.
• Методы электронной микроскопии минералов [Текст] / Г. С. Грицаенко, Б. Б. Звягин, Р. В. Боярская [et al.]. – М. : Наука, 1969. – 562 с. : ил., табл.
• Добрецов, Л. Н. Эмиссионная электроника [Текст] / Л. Н. Добрецов, М. В. Гомоюнова. – М. : Наука, 1966. – 564 с. : ил. – 543-558.
• Капичин, И. И. Оптико-электронные углоизмерительные системы [Текст] / И. И. Капичин. – К. : Техніка, 1986. – 143 с.
• Качала, Т. Б. Багатошарові бази даних для оптимальної структуризації екологічної інформації (зокрема для показників рівня електромагнітного вимірювання випромінювання у навколишньому середовищі) [Текст] / Т. Б. Качала, Н. М. Москальчук, Х. Б. Караванович // Екологічна безпека та збалансоване ресурсокористування. – 2021. – № 2. – С. 87-101.
• Кельман, В. М. Электронная оптика [Текст] / В. М. Кельман, С. Я. Явор. – 3-е изд., перераб. и доп. – Л. : Наука, 1968. – 488 с. : ил., табл. – 476-485.
• Комраков, Б. М. Измерение параметров оптических покрытий [Текст] / Б. М. Комраков, Б. А. Шапочкин. – М. : Машиностроение, 1986. – 132 с. – (Б-ка приборостроителя).
• Кулаков, Ю. А. Электронная микроскопия [Текст] / Ю. А. Кулаков. – М. : Знание, 1981. – 64 с. : ил. – 64.
• Лазарев, Л. П. Инфракрасные и световые приборы самонаведения и наведения летательных аппаратов [Текст] / Л. П. Лазарев. – 3-е изд., перераб. и доп. – М. : Машиностроение, 1976. – 568 с. : ил., табл. – 537-541.
• Лукьянович, В. М. Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях. Методика и применение [Текст] / В. М. Лукьянович. – М. : АН СССР, 1960. – 320 с. : ил.
• Меркишин, Г. В. Многооконные оптико-электронные датчики линейных размеров [Текст] / Г. В. Меркишин. – М. : Радио и связь, 1986. – 168 с.
• Мишетт, А. Оптика мягкого рентгеновского излучения [Текст] / А. Мишетт ; пер. с англ. – М. : Мир, 1989. – 351 с.
• Молоковский, С. И. Интенсивные электронные и ионные пучки [Текст] / С. И. Молоковский, А. Д. Сушков. – Л. : Энергия, 1972. – 272 с. : ил., табл. – 265-271.
• Молоковский, С. И. Интенсивные электронные и ионные пучки [Текст] / С. И. Молоковский, А. Д. Сушков. – Л. : Энергия, 1972. – 272 с. : ил., табл. – 265-271.
• Пилянкевич, А. Н. Практика электронной микроскопии. Методы препарирования [Текст] / А. Н. Пилянкевич. – М.; К. : Машгиз, 1961. – 176 с. : ил. – 157-160.
• Посувайло, В. М. Дослідження спектрів випромінювання електролітної плазми під час синтезу оксидокерамічних покривів на сплавах Д16 та АД33 [Текст] / В. М. Посувайло // Фізико-хімічна механіка матеріалів. – 2018. – T. 54, № 1. – С. 120-125.
• Стенина, Н. Г. Просвечивающая электронная микроскопия в задачах гинетической минералогии [Текст] : Труды ин-та геологии и геофизики. Вып. 611 / Н. Г. Стенина ; Шарапов В. Н., ред. – Новосибирск : Наука, 1985. – 112 с.
• Томас, Г. Электронная микроскопия металлов [Текст] / Г. Томас ; пер. с англ. Утевский Л. М. – М. : Изд-во ин. лит., 1963. – 352 с. : ил. – 318-324.
• Фоменко, В. С. Эмиссионные свойства материалов [Текст] / В. С. Фоменко. – 4-е изд., перераб. и доп. – К. : Наук. думка, 1981. – 340 с. : ил., табл. – 303-340.
• Хейденрайх, Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии [Текст] / Р. Хейденрайх ; пер. с англ. Кардонский В. М., Хачатурин А. Г. – М. : Мир, 1966. – 472 с. : ил., табл. – 466-468.
• Хокс, П. Электронная оптика и электронная микроскопия [Текст] / П. Хокс ; пер. с англ. Анаскин И. Ф., Розенфельд А. М. – М. : Мир, 1974. – 320 с. : ил. – 296-299.
• Черепин, В. Т. Вторичная ионно-ионная эмиссия металлов и сплавов [Текст] / В. Т. Черепин, М. А. Васильев. – К. : Наук. думка, 1975. – 240 с. : ил., табл. – 226-237.
• Дифракция волн на решетках [Текст] / В. П. Шестопалов, Л. Н. Литвиненко, С. А. Масалов, В. Г. Сологуб. – Х. : Харьков. ун-т, 1973. – 288 с. : ил. – 280-285.
• Дифракция волн на решетках [Текст] / В. П. Шестопалов, Л. Н. Литвиненко, С. А. Масалов, В. Г. Сологуб. – Х. : Харьков. ун-т, 1973. – 288 с. : ил. – 280-285.
• Шиммель, Г. Методика электронной микроскопии [Текст] / Г. Шиммель ; пер. с нем. Розенфельд А. М., Спасский М. Н. – М. : Мир, 1972. – 300 с. : ил. – 285-292.
• Шостак, А. В. РЕМ - фотограмметричне оцінювання мікрорельєфу поверхонь [Текст] / А. В. Шостак // Вісник геодезії та картографії. – 2011. – № 1. – С. 30-34.
• Электронно- и ионнолучевая технология [Текст] : труды /  пер. с англ. Васильев Я. М., Иоффе Ю. С., др. – М. : Металлургия, 1968. – 444 с. : ил., табл.