|
| | |
Молодкин, В. Б. Количественная диагностика наноразмерных дефектов методом полной интегральной отражательной способности в геометрии Лауэ [Текст] / В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, И. И. Рудницкая // Металлофизика и новейшие технологии. – 2004. – Т. 26, № 5. – С. 641-658.
|
| |
|