Електронний каталог науково-технічної бібліотеки ІФНТУНГ

Пошук Відібрані Формуляр Опис документа
Науковий архів ІФНТУНГ Сайт бібліотеки Сайт ІФНТУНГ
          Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний [Текст]
    // Электронные компоненты и сиcтемы. – 2003. – № 10. – С. 3-5.



            

Є складовою частиною документа Электронные компоненты и сиcтемы [Текст] : мас. науч.-техн. журн. – 2003. – № 10. – 48 с. – У фонді НТБ відсутній.







Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'