|
| 621.317.4 | | К23 |
Каркешкин, К. А.
Современные методы и аппаратура для определения параметров магнитной анизотропии в тонких магнитных пленках [Текст] : обзор. информ. / К. А. Каркешкин, М. М. Червинский, И. П. Горбунов. – М. : ВНИИКИ, 1975. – 44 с. – (Образцовые и высокоточные методы измерений). – 41-44.
|
| |
|
