Цалієв Т. А. Апертурні антени з дискретною робочою поверхнею (основи теорії та дифракційний аналіз). - Рукопис. Дисертація на здобуття наукового ступеня доктора технічних наук за спеціальністю 05.12.07 - антени та пристрої мікрохвильової техніки. - Одеська національна академія зв'язку ім. О.С. Попова, Одеса, 2007. Дисертацію присвячено розробці основ теорії, розвитку методів дифракційного аналізу й дослідженню електродинамічних характеристик нового класу апертурних антен - пристроїв із дискретними робочими поверхнями. Сформульовані визначення, здійснена класифікація, представлені ідеї та принципи побудови дискретних поверхонь, які розглядаються як елементи апертурних антен. Запропоновані й удосконалені методи дифракційного аналізу, які засновані на розв'язку інтегральних рівнянь. Метод дифракційного аналізу характеристик антенних елементів з ідеально провідною дискретною поверхнею, складається в послідовному двохетапному чисельному рішенні відповідної дифракційної задачі. Його розвитком й удосконаленням є розроблений та апробований метод фазової корекції З використанням запропонованих методів і створених математичних моделей реалізовано чисельне рішення відповідних двовимірних дифракційних задач та проведено аналіз властивостей різноманітних дискретних поверхонь. Вперше вивчені основні фізичні закономірності при змінах кількості шарів, геометричних параметрів, довжини хвилі, характеру поверхневого імпедансу та амплітудного розподілу падаючого поля. Проведено порівняння напрямлених, фокусуючих і частотних властивостей усіх досліджуваних антенних пристроїв з аналогічними властивостями суцільних параболічних дзеркал. На основі проведених натурних експериментів досліджені спрямовані властивості дзеркальних і лінзових антен з дискретною й модифікованою дискретною робочою поверхнею. Ключові слова: апертурні антени, дискретні поверхні, дзеркальні антени, рефлектори, коліматори, зони Френеля, узагальнені зони Френеля, лінзи Френеля, модифіковані лінзи Френеля, дифракційний аналіз, метод фазової корекції, математична модель, направлені властивості, фокусуючі властивості, частотні властивості, діаграма розсіювання.