Електронний каталог науково-технічної бібліотеки ІФНТУНГ

006.91
          Облан, Ж.
    Метрологія і запити нанотехнологій [Текст] / Ж. Облан
    // Метрологія та прилади. – 2008. – № 2. – С. 56-57.


УДК 006.91

            


Є складовою частиною документа Метрологія та прилади [Текст] : наук.-вироб.журн. – 2008. – № 2. – 72 c.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'