Електронний каталог науково-технічної бібліотеки ІФНТУНГ

531.717.8
          Эталонная установка для измерений параметров шероховатости от нанометрового до милиметрового диапазона [Текст] / В. С. Купко, И. В. Лукин, В. А. Ристо [et al.]
    // Измерительная техника. – 2007. – № 11. – С. 13-17.


УДК 531.717.8

            


Є складовою частиною документа Измерительная техника [Текст] : науч.-техн. журн. – 2007. – № 11. – 72 с. – У фонді НТБ відсутній.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'