Решетник О.В. "Нові принципи динамічної трикристальної рентгенівської дифрактометрії мікродефектів в реальних монокристалах".- Рукопис. Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.07- фізика твердого тіла. Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, м. Київ, 2005 р. Створено і реалізовано диференційно-інтегральний метод у випадку Брегг-дифракції, який вперше оперує з дифузною і когерентною складовими інтегральної інтенсивності розсіяння, що вимірюються окремо на трикристальному дифрактометрі. Вперше розроблено нові фізичні моделі і методичні основи високоінформативних динамічних методів трикристальної дифрактометрії дефектної структури монокристалічних матеріалів. Особливість створених фізичних моделей полягає у врахуванні впливу як мікродефектів, так і напружених приповерхневих шарів у всіх елементах рентгенооптичних схем (монохроматорі(ах), аналізаторі та зразку) на одно- та двовимірні профілі розподілів інтенсивності в околі вузлів оберненої ґратки досліджуваних зразків, що вимірюються на тривісьових дифрактометрах. На основі розроблених нових принципів реалізовано комбінований підхід до діагностики мікродефектів декількох типів шляхом комплексного використання тривісьових методів трикристального і високороздільного двокристального дифрактометрів. Ключові слова: динамічна дифракція, дифузне розсіяння, мікродефекти, високороздільна рентгенівська дифрактомегрія, інструментальна функція.