|
| 621.315.592 | | О-62 |
Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А3В5 (По данным отечественной и зарубежной печати за 1975-1989гг.) [Текст] : обзоры по электронной технике. Вып.1(1572) / А. В. Бобыль, Г. Д. Варенко, С. А. Евдокимов, др. – М. : ЦНИИ "Электроника", 1990. – 64 с. – (Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания). – 3 р. 65 к.
|
| УДК 621.315.592:53.082.5(048) |
| |
|
