Електронний каталог науково-технічної бібліотеки ІФНТУНГ

620.179.1
          Бызов, В. Ю.
    Тенденции развития специализированных дефектоскопов [Текст] / В. Ю. Бызов, А. А. Покладов, В. Е. Рыльский
    // В мире неразрушающего контроля. – 2006. – № 2. – С.55-58.


УДК 620.179.1

            


Є складовою частиною документа В мире неразрушающего контроля [Текст] : журн. обозрение. – 2006. – № 2. – 88 с. – У фонді НТБ відсутній.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'